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x射线光电子能谱研究金属硫族化物薄膜:复习一下

作者(年代):何鸿燊Soonmin

x射线光电子光谱学(XPS)样品分析能够提供有用的信息在薄膜表层。在这个工作中,化学成分和元素氧化态研究了二进制,三元和四元薄膜。